半导体激光测距仪GB/T 29299测试

GB/T 29299-2012是中国国家标准，全称为《半导体激光测距仪通用技术条件》。该标准规定了半导体激光测距仪的要求、试验方法、检验规则、包装、运输和标志等内容，适用于半导体激光测距类仪器。以下是该标准的主要内容：

范围：适用于半导体激光测距类仪器，规定了仪器的要求、试验方法、检验规则、包装、运输和标志等。

规范性引用文件：包括了其他国家标准和文件，如GB/T2828.1、GB/T2829、GB/T4857.5、GB/T4857.10、GB/T5080.1、GB7247.1、GB/T10320等，这些文件对于本标准的应用是必不可少的。

术语和定义：包括了半导体激光测距仪相关术语的定义，如最大测程、最小测程、测距精度、测距重复频率等。

要求：

技术要求：包括安全性、重量、外观、电源适应性、反接保护、功能显示和内部清洁度等。

性能要求：涉及测距仪的性能标准。

环境适应性要求：对仪器在不同环境条件下的适应性提出要求。

可靠性要求：对仪器的可靠性提出要求。

试验方法：详细描述了技术要求试验、性能要求试验、环境适应性要求试验和可靠性要求试验的方法。

检验规则：包括一般规则、鉴定检验、型式检验、出厂检验以及检验项目、抽样方案及合格或不合格判断。

包装、运输和标志：规定了半导体激光测距仪的包装、运输和标志要求。